尼康半导体设备
L200/L 200A 半导体
8寸晶圆检查显微镜
倍率: 25 × 1500 ×
3-8 寸芯片观察
L300 半导体
12 寸晶圆大型检查显微镜
倍率: 25 × -2000 ×
LCD 及 12 寸芯片专用
LV150/LV150A
高倍金相显微镜
倍率: 25 × -1500 ×
3-6 寸芯片及金属表面组织观察
NWL-641/860
半导体芯片检查输送机
4 、 5 、 6 、 8 寸芯片传输检查专用
可连接 L150/L 150A 及 L200/L 200A
半导体显微镜
Nikon
Zeiss
NEXTEC
Other
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